Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии

  • Автор: Крутиков Владимир Николаевич, Анашина О. Д., Андрюшечкин О. Д.
  • Издательство: Логос
  • Год выпуска: 2011 *
  • Обложка: твердый переплёт
  • ISBN: 978-5-98704-613-5
1 716 руб.
Освещаются методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов. Рассмотрены меры по обеспечению единства измерений в Российской Федерации, ведущие тенденции развития нанотехнологий за рубежом и в России, обосновано формирование инфраструктуры центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии. Описаны методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии. Раскрыты прикладные вопросы метрологического обеспечения реализованных проектов в отдельных областях наноиндустрии в рамках Федеральной целевой программы Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы. Для специалистов центров стандартизации и метрологии, метрологических служб предприятий, поверителей, сотрудников санитарно-эпидемиологической службы, проходящих переподготовку и приобретающих дополнительную квалификацию в Академии стандартизации, метрологии и сертификации Росстандарта. Будет полезна студентам вузов, получающим образование в области нанотехнологий и нанометрологии.